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半導體芯片BiasHAST測試偏壓老化測試
半導體芯片BiasHAST測試偏壓老化測試,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、...
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所在地:成都市
參考價:
¥11111更新時間:2024/12/27 16:20:38
對比
高加速老化BiasHAST測試半導體芯片偏壓老化測試
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接觸式高低溫芯片測試機
接觸式高低溫芯片測試機 ,可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式高低溫設備(熱流儀、溫箱等)相比具有升降溫效率高,操...
型號:
所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/20 17:11:53
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接觸式高低溫芯片測試機接觸式thermoplate高低溫循環測試系統冷熱沖擊機zonglen ATC
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接觸式 冷熱臺 高低溫測試儀三溫臺
接觸式 冷熱臺 高低溫測試儀三溫臺 ,可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式高低溫設備(熱流儀、溫箱等)相比具有升降...
型號:
所在地:成都市
參考價:
¥11111更新時間:2024/12/20 16:39:32
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冷熱臺高低溫測試儀三溫測試臺冷熱沖擊機zonglen ATC
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HAST高加速老化試驗箱偏壓老化測試
HAST高加速老化試驗箱偏壓老化測試,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、...
型號:
所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/20 16:31:57
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偏壓老化測試高加速老化半導體芯片BiasHAST測試
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HAST高加速壽命偏壓老化試驗箱BHAST
HAST高加速壽命偏壓老化試驗箱BHAST,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、...
型號:
所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/20 16:22:21
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偏壓老化測試高加速老化高加速壽命偏壓BHAST
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高低溫接觸式thermoplate
高低溫接觸式thermoplate,接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式高...
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所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/20 16:15:54
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高低溫測試儀接觸式thermoplate高低溫循環測試系統冷熱沖擊機zonglen ATC
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工業用HAST高加速壽命老化試驗箱
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型號:
所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/20 16:12:16
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偏壓老化測試高加速老化高加速壽命偏壓工業用高加速壽命老化試驗箱
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HAST 高加速壓力測試系統
HAST 高加速壓力測試系統,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的各...
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¥11111更新時間:2024/12/20 16:11:36
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偏壓老化測試HAST高加速壽命偏壓工業用高加速壽命老化試驗箱高加速壓力測試系統
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HAST測試的失效機理
HAST測試的失效機理,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的各種條件...
型號:
所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/20 16:11:00
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偏壓老化測試HAST測試的失效機理高加速壽命偏壓工業用高加速壽命老化試驗箱高加速壓力測試系統
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RF射頻芯片HAST測試
RF射頻芯片HAST測試,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的各種條...
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所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/20 16:10:10
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RF射頻芯片HAST測試的失效機理高加速壽命偏壓工業用高加速壽命老化試驗箱高加速壓力測試系統
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半導體芯片HAST加速模擬老化測試箱
半導體芯片HAST加速模擬老化測試箱,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、...
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¥11111更新時間:2024/12/20 16:09:04
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Burn-in Chamber半導體芯片HAST測試機高加速老化老化測試
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BHAST高壓加速老化測試
BHAST高壓加速老化測試,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的各種...
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所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/20 16:03:06
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BHAST高壓加速老化測試半導體芯片偏壓老化測試
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HAST高加速偏壓老化測試
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所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/20 15:56:49
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HAST高壓加速老化測試半導體芯片高加速偏壓老化測試
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熱流儀 LED 液晶顯示屏高低溫沖擊測試
熱流儀 LED 液晶顯示屏高低溫沖擊測試,ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學檢測設備, 提供顯示行業 LCD, LCM, TV, monito...
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所在地:成都市
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¥8888更新時間:2024/12/20 15:36:43
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熱流儀液晶顯示屏高低溫沖擊測試高低溫試驗功率器件
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zonglen桌面型高低溫沖擊熱流儀
zonglen桌面型高低溫沖擊熱流儀,接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式...
型號: ATC系列
所在地:成都市
參考價:
¥11111更新時間:2024/12/3 15:20:20
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桌面型高低溫沖擊高低溫沖擊設備高低溫循環測試系統溫度強迫系統熱流儀
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光纖收發器高低溫測試桌面型熱流儀
光纖收發器高低溫測試桌面型熱流儀,接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式高低...
型號: ATC系列
所在地:成都市
參考價:
¥11111更新時間:2024/12/3 15:16:39
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ATC系列光纖收發器高低溫循環測試系統溫度強迫系統高低溫測試桌面型
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高低溫沖擊機搭配液晶顯示屏測量系統
高低溫沖擊機搭配液晶顯示屏測量系統,ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學檢測設備, 提供顯示行業 LCD, LCM, TV, monitor, ...
型號:
所在地:成都市
參考價:
¥8888更新時間:2024/12/3 15:08:41
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高低溫沖擊機液晶顯示屏測量系統高低溫試驗功率器件
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熱流儀高低溫氣流循環沖擊系統ATE測試應用
熱流儀高低溫氣流循環沖擊系統ATE測試應用,接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統...
型號: ATC系列
所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/3 15:05:41
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ATC系列光纖收發器高低溫循環測試系統溫度強迫系統高低溫測試桌面型
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HAST高加速應力測試BiasHAST
HAST高加速應力測試BiasHAST,B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/...
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¥11111更新時間:2024/12/3 14:52:15
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BiasHAST高加速壓力測試系統HAST測試機立式偏壓老化測試系統
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冷熱臺冷熱沖擊機高低溫測試儀
冷熱臺冷熱沖擊機高低溫測試儀,接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式高低溫設...
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所在地:成都市
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¥11111更新時間:2024/12/3 14:43:23
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高低溫測試儀冷熱臺高低溫循環測試系統冷熱沖擊機zonglen ATC