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成都中冷低溫科技有限公司
  • 半導體芯片BiasHAST測試偏壓老化測試

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  • HAST高加速老化試驗箱偏壓老化測試

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  • HAST高加速壽命偏壓老化試驗箱BHAST

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  • 工業用HAST高加速壽命老化試驗箱

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  • HAST 高加速壓力測試系統

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  • HAST測試的失效機理

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  • RF射頻芯片HAST測試

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  • 半導體芯片HAST加速模擬老化測試箱

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  • BHAST高壓加速老化測試

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  • HAST高加速偏壓老化測試

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  • 熱流儀 LED 液晶顯示屏高低溫沖擊測試

    熱流儀 LED 液晶顯示屏高低溫沖擊測試,ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學檢測設備, 提供顯示行業 LCD, LCM, TV, monito...

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    熱流儀液晶顯示屏高低溫沖擊測試高低溫試驗功率器件
  • HAST高加速應力測試BiasHAST

    HAST高加速應力測試BiasHAST,B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/...

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  • 熱流儀搭配Keysight進行功率器件高低溫測試

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  • 熱流儀搭配液晶顯示屏測量系統高低溫試驗

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  • 高低溫沖擊搭配Keysight功率器件測試方案

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  • 搭配Keysight功率器件測試方案高低溫沖擊

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    熱流儀高低溫沖擊Keysight功率器件測試方案
  • 絕緣電阻劣化評估系統 HAST試驗箱

    絕緣電阻劣化評估系統 HAST試驗箱,絕緣電阻劣化(離子遷移)測試系統搭配HAST高加速老化試驗箱,可高精度連續監測,快捷評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻...

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  • HAST高加速壽命試驗箱

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  • HAST高加速應力試驗系統加速高溫高濕偏壓

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  • PCB離子遷移測試 試驗箱

    PCB離子遷移測試 試驗箱,PCB離子遷移,簡稱CAF。離子遷移是指在印刷電路板等產品上,由于離子化金屬向相反電極移動,在相對電極還原成原來的金屬并有析出的現象...

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    PCB離子遷移測試桌面式溫度迫使系統高加速壽命試驗箱HAST

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