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詳細介紹
| {特性} ★查找失效電容、二權管、TTL或CMOS芯片，可控硅等。 ★采用離線測試，避免線路板帶電測試時將導致的進一步損壞。 ★雙輸入通道（AB交替方式），可使使用者對損壞板元斯灣件與同型號完好元件進行比較分析； ★對于元件，儀器可提供專門的低電流交變信號，能過觀察電壓、電流牲響應，即可診斷元件壞與否； ★可調測試參數能夠奪于元件的特征響應加以突出及衰減； ★ 不同參數范圍允許操作者選擇特殊的電壓、電阻及頻率組合，為各種特別元件的測試量身裁衣； ★通過改變量程參數，實現牲響應方位圖差異手的聚集分析，例如調節電壓量小于600MV，無源元件可在元連帶半導體影響的條件下測試其特征響應： {技術規格} 測試頻率：20Hz、50/60Hz、200Hz或2KHz 輸出波形：正弦波 通道：雙通道 輸出電壓：200MV、2V、5V、10V或15V 源 阻 抗：10，100，1K、10K或100歐姆 量程選擇：自動掃描或手動 交替頻率：０.5Hz～5Hz（可調） 過載保護：電子電流斷路器 DC 電源：０～±5VDC（zui大50mA） 輸入電壓：220VAC 顯 示：２.8英寸CRT | 產品圖片 |
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